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Relations of timed event graphs and timed automata in fault diagnosis

Schullerus, Gernot; Supavatanakul, Peerasan; Krebs, Volker; Lunze, Jan


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Regelungs- und Steuerungssysteme (IRS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000000269
Erschienen in 5th IFAC Symposium on Fault Detection, Supervision and Safety for Technical Processes, Washington, DC 2003
Seiten 819-824
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