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Atomic resolution transmission electron microscopy of silicon nitride and the intergranular structure of a Y2O3-containing silicon nitride ceramic

Ziegler, Alexander; Kisielowski, Christian; Hoffmann, Michael Johannes; Ritchie, Robert O.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Keramik im Maschinenbau (IKM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0002-7820
KITopen ID: 1000000558
Erschienen in Journal of the American Ceramic Society
Band 86
Heft 10
Seiten 1777-1785
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