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Determination of coating thickness of DEHS on submicron particles by means of low pressure impaction

Seipenbusch, M.; Heel, A.; Weber, Alfred P.; Kasper, Gerhard


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0930-7516
KITopen-ID: 1000000675
Erschienen in Chemical engineering and technology
Verlag John Wiley and Sons
Band 25
Heft 1
Seiten 77-82
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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