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In situ determination of the charging of nanometer and submicron particles at high temperatures

Schiel, Annette; Weber, Alfred P.; Kasper, Gerhard; Schmid, Hans-Joachim


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik (MVM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2002
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0934-0866
KITopen-ID: 1000000679
Erschienen in Particle and particle systems characterization
Verlag John Wiley and Sons
Band 19
Heft 6
Seiten 410-418
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