Messung und Simulation von Konzentrationsprofilen bei der Trocknung von dünnen Filmen mit Hilfe der Konfokalen-Mikro-Raman-Spektroskopie
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Thermische Verfahrenstechnik (TVT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2003 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISSN: 0009-286X KITopen-ID: 1000000875 |
| Erschienen in | Chemie-Ingenieur-Technik |
| Verlag | Wiley-VCH Verlag |
| Band | 75 |
| Heft | 8 |
| Seiten | 1105/1106 |