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Messung und Simulation von Konzentrationsprofilen bei der Trocknung von dünnen Filmen mit Hilfe der Konfokalen-Mikro-Raman-Spektroskopie

Schabel, Wilhelm; Scharfer, Philip; Kind, Matthias



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Thermische Verfahrenstechnik (TVT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2003
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0009-286X
KITopen ID: 1000000875
Erschienen in Chemie-Ingenieur-Technik
Band 75
Heft 8
Seiten 1105/1106
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