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Internal stress measurements by high-energy synchrotron X-ray diffraction at increased specimen-detector distance

Böhm, J.; Wanner, Alexander ORCID iD icon; Kampmann, R.; Franz, H.; Liss, K.-D.; Schreyer, A.; Clemens, H.


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0168-583x
KITopen-ID: 1000000905
Erschienen in Nuclear instruments and methods in physics research / B
Band 200
Seiten 315-322
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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