Internal stress measurements by high-energy synchrotron X-ray diffraction at increased specimen-detector distance
Böhm, J.; Wanner, Alexander
; Kampmann, R.; Franz, H.; Liss, K.-D.; Schreyer, A.; Clemens, H.
; Kampmann, R.; Franz, H.; Liss, K.-D.; Schreyer, A.; Clemens, H.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Maschinenbau – Institut für Werkstoffkunde I (IWK I) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2003 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0168-583x KITopen-ID: 1000000905 |
| Erschienen in | Nuclear instruments and methods in physics research / B |
| Band | 200 |
| Seiten | 315-322 |