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Internal stress measurements by high-energy synchrotron X-ray diffraction at increased specimen-detector distance

Böhm, J.; Wanner, Alexander; Kampmann, R.; Franz, H.; Liss, K.-D.; Schreyer, A.; Clemens, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffkunde I (IWK I)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0168-583x
KITopen ID: 1000000905
Erschienen in Nuclear instruments and methods in physics research / B
Band 200
Seiten 315-322
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