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Automatische Sichtprüfung

Beyerer, Jürgen


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2004
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0937-2970
KITopen-ID: 1000002428
Erschienen in Fraunhofer Magazin
Heft 4
Seiten 46-47
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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