Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2004 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | KITopen-ID: 1000002651 |
Erschienen in | IEEE/ACM Proceedings of Design Automation and Test in Europe Conf., Paris, Frankreich, 17.-19.2.04 |
Verlag | Paris |
Seiten | 1020-1025 |