| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Informatik – Institut für Rechnerentwurf und Fehlertoleranz (IRF) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2004 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000002652 |
| Erschienen in | IEEE/ACM Proceedings of Design Automation and Test in Europe Conference, Paris, Frankreich, 17.2.-19.2.04 |
| Verlag | Paris |
| Seiten | 770-775 |