Using machine learning for estimating the defect content after an inspection
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2004 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0098-5589 KITopen-ID: 1000002668 |
| Erschienen in | IEEE transactions on software engineering |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 30 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 17-28 |