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Using machine learning for estimating the defect content after an inspection

Padberg, Frank; Ragg, T.; Schoknecht, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Programmstrukturen und Datenorganisation (IPD)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0098-5589
KITopen ID: 1000002668
Erschienen in IEEE transactions on software engineering
Band 30
Heft 1
Seiten 17-28
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