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Deflektometrische Untersuchung spiegelnd reflektierender Freiformflächen

Kammel, Sören

Abstract:

Sowohl bei der Fertigung industrieller Zwischenprodukte als auch bei der Produktion von Konsumgütern treten vielerlei glänzende bzw. spiegelnde Oberflächen auf. Während bei technischen spiegelnden Oberflächen, wie z.B. Press- bzw. Gusswerkzeugen oder optischen Bauelementen, die Funktionalität des Werkstücks durch Oberflächendefekte gefährdet ist, stehen bei Produkten für den Endkunden, wie z.B. Armaturen, Musikinstrumenten oder lackierten Autokarosserien, ästhetische Aspekte im Vordergrund. Gerade im Bereich der Automobilindustrie sind die Qualitätsansprüche der Endkunden in den letzten Jahren enorm gestiegen, so dass marktübliche Verfahren zur Qualitätssicherung allmählich an ihre Grenzen stoßen.
Ein Messverfahren, das den gestiegenen Anforderungen an Genauigkeit und Geschwindigkeit weitgehend gerecht wird, ist die Deflektometrie. Sie ist dem menschlichen Verhalten beim Prüfen spiegelnder Oberflächen nachempfunden. Aufbauend auf dem deflektometrischen Messprinzip wurden im Rahmen dieser Arbeit Algorithmen entwickelt, welche die Planung eines deflektometrischen Messaufbaus automatisieren. Für eine präzise Messung geringer Krümmungsänderungen wurden darüber hinaus Methoden vorgestellt, welche die Phase der optischen Abbildungsfunktion analysieren. ... mehr


Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000002980
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2005
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 3-937300-28-7
ISSN: 1613-4214
urn:nbn:de:0072-29808
KITopen-ID: 1000002980
Verlag Universitätsverlag Karlsruhe
Umfang VIII, 115 S.
Serie Schriftenreihe / Institut für Mess- und Regelungstechnik, Universität Karlsruhe (TH) ; 4
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Prüfungsdaten 03.05.2004
Schlagwörter Deflectometry, reflection methods, specular surfaces, automated visual inspection, structured lighting, 3D reconstruction, image processing
Referent/Betreuer Stiller, C.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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