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Towards Formal Ontologies for Technology Risk Measurement in the Banking Industry

Cuske, Christian; Korthaus, Axel; Seedorf, Stefan; Tomczyk, Peter



Zugehörige Institution(en) am KIT Forschungszentrum Informatik, Karlsruhe (FZI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000003867
Erschienen in 1st Workshop "Formal Ontologies Meet Industry" (FOMI 2005)
Seiten -
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