KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Measurement of dielectric and conductive properties of avionic materials at 2.45 GHz using two-step approach

Akhtar, M. J.; Feher, L.; Thumm, Manfred



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Höchstfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000003928
HGF-Programm 11.12.02; LK 01
Erschienen in Proceedings. 39th Annual Microwave Symposium, Seattle, WA 2005
Seiten 58-61
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page