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Measurement of dielectric and conductive properties of avionic materials at 2.45 GHz using two-step approach

Akhtar, M. J.; Feher, L.; Thumm, Manfred


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Höchstfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000003928
HGF-Programm 11.12.02 (POF I, LK 01) Innov.Reaktions-u.Verfahrenstechnik
Erschienen in Proceedings. 39th Annual Microwave Symposium, Seattle, WA 2005
Seiten 58-61
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