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Discussion about the reliable dimensioning of micro components and potentials for stress decrease

Albers, A.; Metz, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 92-9900-350-5
KITopen ID: 1000004272
Erschienen in Proceedings of the 5th International Conference of the European Society for Precision Engineering and Nanotechnology, Montpellier, France 2005. Ed.: F. Chevrier
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