Mikrooptische Sensoren nach dem chromatisch konfokalen Messprinzip
Lücke, Peter; Last, Arndt
; Mohr, Jürgen
; Mohr, Jürgen| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISSN: 0947-8620 urn:nbn:de:0005-072343 KITopen-ID: 1000004651 Reportnummer: FZKA-7234 |
| HGF-Programm | 43.04.04 (POF I, LK 01) Photonische Systeme |
| Verlag | FZK |
| Serie | Wissenschaftliche Berichte. FZKA ; 7234 |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Maschinenbau (MACH) |
| Prüfungsdaten | 03.05.2006 |
| Bemerkung zur Veröffentlichung | Dissertation von Peter Lücke |
| Externe Relationen | Abstract/Volltext |
| Nachgewiesen in | OpenAlex |
| Referent/Betreuer | Saile, V. |
