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Mikrooptische Sensoren nach dem chromatisch konfokalen Messprinzip

Lücke, Peter; Last, Arndt; Mohr, Jürgen


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000004651
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2006
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0947-8620
urn:nbn:de:0005-072343
KITopen-ID: 1000004651
Reportnummer: FZKA-7234
HGF-Programm 43.04.04 (POF I, LK 01) Photonische Systeme
Verlag FZK
Serie Wissenschaftliche Berichte. FZKA ; 7234
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Prüfungsdaten 03.05.2006
Bemerkung zur Veröffentlichung Dissertation von Peter Lücke
Externe Relationen Abstract/Volltext
Referent/Betreuer Saile, V.
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