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Advanced orphelec test equipment and novel test procedures

Bausch, Jörg; Kistner, Timo; Moreau, Alain; Sauvage, Sylvain; Milanini, Stéphane



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000004663
Erschienen in ISPLC 2005. 9th International Symposium on Power-Line Communications and Its Applications, Vancouver, Canada 2005. Session B7: Application and system implementation II
Seiten 385-389
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