Advanced orphelec test equipment and novel test procedures

Bausch, Jörg; Kistner, Timo; Moreau, Alain; Sauvage, Sylvain; Milanini, Stéphane

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2005
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 1000004663
Erschienen in	ISPLC 2005. 9th International Symposium on Power-Line Communications and Its Applications, Vancouver, Canada 2005. Session B7: Application and system implementation II
Seiten	385-389