Fault detection in distributed automotive electronic, systems using hierachical colored Bayesian petri-nets
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2005 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISBN: 0-7680-1601-0 KITopen-ID: 1000004698 |
| Erschienen in | Reliability and robust design in automotive engineering 2005.2005 SAE World Congress, Detroit, Mich. |
| Verlag | Soc. of Automotive Engineers |
| Seiten | 9 Seiten |
| Serie | SAE Paper ; 2005-01-0563 |