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Volltext
URN: urn:nbn:de:swb:90-50772

Focused-ion-beam nanofabrication of magnetic metamaterials for telecommunication frequencies

Enkrich, C.; Pérez-Willard, F.; Gerthsen, D.; Zhou, J.; Soukoulis, C.M.; Wegener, M.; Linden, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0935-9648
URN: urn:nbn:de:swb:90-50772
KITopen ID: 1000005077
Erschienen in Advanced Materials
Band 17
Heft 21
Seiten 2547-2549
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