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Determination of the mean inner potential in III-V semiconductors, Si and Ge by density functional theory and electron holography

Kruse, P.; Schowalter, M.; Lamoen, D.; Rosenauer, A.; Gerthsen, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991
KITopen ID: 1000005079
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 106
Seiten 105
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