Strain state analysis of InGaN/GaN sources of error and optimised imaging conditions
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0031-8965 KITopen-ID: 1000005080 |
| Erschienen in | Physica status solidi / A |
| Verlag | John Wiley and Sons |
| Band | 203 |
| Seiten | 176 |