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Electron holography of thin amorphous carbon films: measurement of the mean inner potential and a thickness-independent phase shift

Wanner, M.; Bach, D.; Gerthsen, D.; Werner, R.; Tesche, B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Theoretische Festkörperphysik (TFP)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991
KITopen ID: 1000005081
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 106
Seiten 341
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