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Investigation of the electrical activity of dislocations in n-GaN and n-ZnO epilayers by transmission electron holography

Müller, E.; Gerthsen, D.; Brückner, P.; Scholz, F.; Kirchner, C.; Waag, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121
KITopen ID: 1000005088
Erschienen in Physical review / B
Band 73
Seiten 245316
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