Investigation of the electrical activity of dislocations in n-GaN and n-ZnO epilayers by transmission electron holography
Müller, E.
; Gerthsen, D.; Brückner, P.; Scholz, F.; Kirchner, C.; Waag, A.
; Gerthsen, D.; Brückner, P.; Scholz, F.; Kirchner, C.; Waag, A.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1098-0121 KITopen-ID: 1000005088 |
| Erschienen in | Physical review / B |
| Verlag | American Physical Society (APS) |
| Band | 73 |
| Seiten | 245316 |