Electrical activity of dislocations in epitaxial ZnO- and GaN-layers analyzed by holography in a transmission electron microscope
Müller, E.
; Gerthsen, D.; Brückner, P.; Scholz, F.; Kirchner, C.; Waag, A.
; Gerthsen, D.; Brückner, P.; Scholz, F.; Kirchner, C.; Waag, A.| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1369-8001 KITopen-ID: 1000005090 |
| Erschienen in | Materials science in semiconductor processing |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 9 |
| Seiten | 127 |