Investigations on the microstructure development of anodically grown oxide layers on sintered capacitor-grade niobium and V-doped niobium powder compacts
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik (IWE) Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1862-5282 KITopen-ID: 1000005092 |
| Erschienen in | International journal of materials research |
| Verlag | Carl Hanser Verlag |
| Band | 97 |
| Seiten | 794 |