KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Investigations on the microstructure development of anodically grown oxide layers on sintered capacitor-grade niobium and V-doped niobium powder compacts

Störmer, H.; Schnitter, C.; Ivers-Tiffée, E.; Gerthsen, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik (IWE)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1862-5282
KITopen ID: 1000005092
Erschienen in International journal of materials research
Band 97
Seiten 794
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page