Defects and phase distribution in epitaxial ZnMnSe layers analyzed by transmission electron microscopy
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0021-8979 KITopen-ID: 1000005093 |
| Erschienen in | Journal of applied physics |
| Verlag | American Institute of Physics (AIP) |
| Band | 100 |
| Seiten | 023523 |