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Defects and phase distribution in epitaxial ZnMnSe layers analyzed by transmission electron microscopy

Litvinov, D.; Gerthsen, D.; Daniel, B.; Hetterich, M.; Klingshirn, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-8979
KITopen-ID: 1000005093
Erschienen in Journal of applied physics
Band 100
Seiten 023523
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