Transmission electron microscopy investigation of segregation and critical floating-layer content of indium for island formation in InGaAs
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1098-0121 KITopen-ID: 1000005096 |
| Erschienen in | Physical review / B |
| Verlag | American Physical Society (APS) |
| Band | 74 |
| Seiten | 165306 |