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Transmission electron microscopy investigation of segregation and critical floating-layer content of indium for island formation in InGaAs

Litvinov, D.; Gerthsen, D.; Rosenauer, A.; Schowalter, M.; Passow, T.; Hetterich, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121
KITopen-ID: 1000005096
Erschienen in Physical review / B
Band 74
Seiten 165306
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