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Constraints for radio based quality testing in industrial environments

Saala, G.; Schulteis, S.; Luy, J.-F.; Wiesbeck, W.


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Höchstfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000005562
Erschienen in German Microwave Conference GeMic 2006, CD-ROM, Karlsruhe, Mar. 2006
Verlag Universität Karlsruhe (TH)
Seiten -
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