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Überwachung von Gleitkontakten mittels Ultraschallemissionsanalyse

Albers, A.; Dickerhof, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2007
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 1613-5504
KITopen-ID: 1000006925
Erschienen in BK-Newsletter / Mitteilungen des Berliner Kreis - Wissenschaftliches Forum für Produktentwicklung e.V
Band 1
Heft 8
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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