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Parametrisation of Finite Element Models - An overview

Albers, A.; Weiler, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-8322-6036-1
KITopen-ID: 1000006944
Erschienen in Proceedings / 10th CIRP Conference on Computer Aided Tolerancing, Specification and Verification for Assemblies. Ed.: A. Weckenmann
Verlag Shaker Verlag
Seiten 1 CD-Rom
Serie Reports form the Chair Quality Management and Manufacturing Metrology Friedrich-Alexander University Erlangen-Nuremberg ; 16, Proc
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