Integration von Funktionsprüfung und dimensioneller Messtechnik zu einer optimierten QS-Strategie für Mikroverzahnungen

Albers, A.; Fleischer, J.; Burkhardt, N.; Hauser, S.; Behrens, I.

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2006
Sprache	Deutsch
Identifikator	ISBN: 3-18-091950-7 ISSN: 0083-5560 KITopen-ID: 1000007032
Erschienen in	Messtechnik für Mikro- und Nanoengineering : Tagung Erlangen, 29. und 30. November 2006
Verlag	VDI Verlag
Seiten	-
Serie	VDI-Berichte ; 1950

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