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Integration von Funktionsprüfung und dimensioneller Messtechnik zu einer optimierten QS-Strategie für Mikroverzahnungen

Albers, A.; Fleischer, J.; Burkhardt, N.; Hauser, S.; Behrens, I.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2006
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 3-18-091950-7
ISSN: 0083-5560
KITopen-ID: 1000007032
Erschienen in Messtechnik für Mikro- und Nanoengineering : Tagung Erlangen, 29. und 30. November 2006
Verlag VDI-Verlag, Düsseldorf
Seiten -
Serie VDI-Berichte ; 1950
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