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Bedeutung der Verteilungsfunktionen der Eingangsgrößen für die Qualität von Robustheitsanalysen in der Simulation

Albers, A.; Weiler, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2006
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 1-874376-14-X
KITopen-ID: 1000007059
Erschienen in Virtual testing - simulation methods as integrated part of an efficient product development : Seminar ; 10th - 11th May 2006, Wiesbaden, Germany
Verlag NAFEMS Kontakt DACH & Nordic Countries, Grafing bei München
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