Bedeutung der Verteilungsfunktionen der Eingangsgrößen für die Qualität von Robustheitsanalysen in der Simulation
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktentwicklung (IPEK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2006 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | ISBN: 1-874376-14-X KITopen-ID: 1000007059 |
| Erschienen in | Virtual testing - simulation methods as integrated part of an efficient product development : Seminar ; 10th - 11th May 2006, Wiesbaden, Germany |
| Verlag | NAFEMS Kontakt DACH & Nordic Countries |