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Map-Based Approach to Fault Detection for Piecewise-Affine Systems

Schwaiger, Matthias; Krebs, Volker


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Regelungs- und Steuerungssysteme (IRS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 1-4244-0991-8
KITopen-ID: 1000007355
Erschienen in Proceedings of 2007 IEEE International Conference on Systems, Man and Cybernetics. The Delta Centre-Ville at Montréal, Quebec, Canada October 7-10, 2007
Verlag Omni-Press
Seiten 1316-1320
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