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Remote diagnosis of discrete-event systems with on-board and off-board components

Fritsch, C.; Lunze, Jan; Schwaiger, Matthias; Krebs, Volker



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Regelungs- und Steuerungssysteme (IRS)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000007991
Erschienen in Proceedings of safeprocess 2006, 6th IFAC Symposium on Fault Detection, Supervision and Safety of Technical Processes, Aug. 30 - Sep. 1, 2006, Beijing, P.R. China
Verlag Beijing, China
Seiten 1537-1542
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