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Factorization methods for photonics and rough surfaces

Lechleiter, Armin

This thesis investigates non-destructive testing problems for rough and periodic surfaces, where the task is to determine such structures from scattered waves. Such problems are non-linear and ill-posed. We are interested in the analysis of the Factorization method applied to this class of inverse scattering problems. This method does not attempt to solve a non-linear operator equation for the unknown object but computes a binary criterion characterizing points inside and outside the structure.

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DOI: 10.5445/KSP/1000008735
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Algebra und Geometrie (IAG)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-86644-256-6
KITopen-ID: 1000008735
Verlag Universitätsverlag Karlsruhe
Umfang VI, 156 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Mathematik (MATH)
Institut Institut für Algebra und Geometrie (IAG)
Prüfungsdaten 11.06.2008
Referent/Betreuer Prof. A. Kirsch
Schlagwörter inverse scattering problem, surface scattering, Factorization method
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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