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Factorization methods for photonics and rough surfaces

Lechleiter, Armin

Abstract:

This thesis investigates non-destructive testing problems for rough and periodic surfaces, where the task is to determine such structures from scattered waves. Such problems are non-linear and ill-posed. We are interested in the analysis of the Factorization method applied to this class of inverse scattering problems. This method does not attempt to solve a non-linear operator equation for the unknown object but computes a binary criterion characterizing points inside and outside the structure.


Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000008735
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Algebra und Geometrie (IAG)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-86644-256-6
urn:nbn:de:0072-87359
KITopen-ID: 1000008735
Verlag Universitätsverlag Karlsruhe
Umfang VI, 156 S.
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Mathematik (MATH)
Institut Institut für Algebra und Geometrie (IAG)
Prüfungsdaten 11.06.2008
Schlagwörter inverse scattering problem, surface scattering, Factorization method
Referent/Betreuer Kirsch, A.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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