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Robust AAM fitting by fusion of images and disparity data

Liebelt, J.; Xiao, J.; Yang, J.


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000009586
Veröffentlicht am 23.06.2025
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Theoretische Informatik (ITI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1063-6919
KITopen-ID: 1000009586
Erschienen in IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, New York, June 17-22, 2006.
Veranstaltung IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern Recognition Workshops (CVPRW 2006), New York City, NY, USA, 17.06.2006 – 22.06.2006
Verlag IEEEXplore
Seiten 2483-2490
Vorab online veröffentlicht am 09.10.2006
Externe Relationen Siehe auch
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