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Robust AAM fitting by fusion of images and disparity data

Liebelt, J.; Xiao, J.; Yang, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Theoretische Informatik (ITI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2006
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000009586
Erschienen in IEEE Computer Society Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, New York, June 17-22, 2006.
Seiten 2483-2490
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