KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

A versatile measurement system for the determination of dielectric parameters of various materials

Pauli, M.; Kayser, T.; Wiesbeck, W.


Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Höchstfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2007
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0957-0233
KITopen-ID: 1000010234
Erschienen in Measurement Science and Technology, IOP Publishing
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 18
Heft 4
Seiten 1046-1053
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page