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IR spectroscopy diagnostics for microwave processing

Link, G.; Heissler, St.; Faubel, W.; Weidler, P. G.; Thumm, M.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG)
Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM)
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Höchstfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-5-8048-0085-8
KITopen-ID: 1000010397
HGF-Programm 43.03.06 (POF II, LK 01) Konstitution, Synthese u.Processing
Erschienen in 7th International Workshop on Strong Microwaves: Sources and Applications, Vol.2, Nizhny Novgorod, Russia, 27 July - 2 August 2008
Verlag Nizhny Novgorod
Seiten 499 - 503
Serie Invited Talk T12
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