IR spectroscopy diagnostics for microwave processing
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Funktionelle Grenzflächen (IFG) Institut für Hochleistungsimpuls- und Mikrowellentechnik (IHM) Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik – Institut für Höchstfrequenztechnik und Elektronik (IHE) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2009 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-5-8048-0085-8 KITopen-ID: 1000010397 |
| HGF-Programm | 43.03.06 (POF II, LK 01) Konstitution, Synthese u.Processing |
| Erschienen in | 7th International Workshop on Strong Microwaves: Sources and Applications, Vol.2, Nizhny Novgorod, Russia, 27 July - 2 August 2008 |
| Verlag | Nizhny Novgorod |
| Seiten | 499 - 503 |
| Serie | Invited Talk T12 |