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Konkurrierende Genauigkeitsmaße - Potential und Schwächen aus der Sicht des Anwenders

Hennes, Maria

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000010463
Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Geodätisches Institut (GIK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2007
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 0002-5968
urn:nbn:de:swb:90-104639
KITopen-ID: 1000010463
Erschienen in Allgemeine Vermessungs-Nachrichten : AVN
Heft 7
Seiten 136-146
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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