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Recent Developments for Refraction-free Optical Measurements

Hennes, M.; Böckem, B.; Flach, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Geodätisches Institut (GIK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1998
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000010587
Erschienen in XXI. FIG-Symposium, Brighton (GB), 19.-25.07.1998.
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