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Statistische Prozessregelung von Fertigungs- und Messprozess zur Erreichung einer variabilitätsarmen Produktion mikromechanischer Bauteile

Schlipf, Matthias

Abstract:

Ziel der Arbeit war die Entwicklung einer Methodik zur Reduzierung der Variabilität von Mikrofertigungsprozessen und zur Trennung der Streuung von Fertigungs- und Messprozess. Für geometrische Qualitätsmerkmale wurde ein modellbasierter prädiktiver Qualitätsregelkreis für Mikrofertigungsprozesse in ein statistisches Überwachungssystem mit einem neuartigen EWMA-Qualitätsregelkartentyp integriert und implementiert. Die Validierung der Methodik wurde repräsentativ an der Mikrozerspanung gezeigt.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000010671
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2009
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-106717
KITopen-ID: 1000010671
Verlag Universität Karlsruhe (TH)
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut Institut für Produktionstechnik (WBK)
Prüfungsdaten 16.02.2009
Schlagwörter Mikroproduktion, Prozessregelung, Regelungstechnik Qualitätsregelkarten, Mikromesstechnik, Messunsicherheit, Mikrozerspanung
Nachgewiesen in OpenAlex
Referent/Betreuer Fleischer, J.
KIT – Die Universität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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