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Statistische Prozessregelung von Fertigungs- und Messprozess zur Erreichung einer variabilitätsarmen Produktion mikromechanischer Bauteile

Schlipf, Matthias

Abstract:

Ziel der Arbeit war die Entwicklung einer Methodik zur Reduzierung der Variabilität von Mikrofertigungsprozessen und zur Trennung der Streuung von Fertigungs- und Messprozess. Für geometrische Qualitätsmerkmale wurde ein modellbasierter prädiktiver Qualitätsregelkreis für Mikrofertigungsprozesse in ein statistisches Überwachungssystem mit einem neuartigen EWMA-Qualitätsregelkartentyp integriert und implementiert. Die Validierung der Methodik wurde repräsentativ an der Mikrozerspanung gezeigt.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000010671
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktionstechnik (WBK)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2009
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-106717
KITopen-ID: 1000010671
Verlag Universität Karlsruhe (TH)
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Maschinenbau (MACH)
Institut Institut für Produktionstechnik (WBK)
Prüfungsdaten 16.02.2009
Schlagwörter Mikroproduktion, Prozessregelung, Regelungstechnik Qualitätsregelkarten, Mikromesstechnik, Messunsicherheit, Mikrozerspanung
Referent/Betreuer Fleischer, J.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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