| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Buch |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-0-905705-71-2 KITopen-ID: 1000010739 |
| Verlag | Elektuur |
| Umfang | 315 S. |
| Schlagwörter | Triangulierung, Profil <Oberfläche>, Oberfläche, Oberflächenprüfung, Optische Messtechnik, Optische Messung, Messtechnik, Kalibrieren <Messtechnik> |