Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
Publikationstyp | Buch |
Publikationsjahr | 2008 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-0-905705-71-2 KITopen-ID: 1000010739 |
Verlag | Elektuur |
Umfang | 315 S. |
Schlagwörter | Triangulierung, Profil <Oberfläche>, Oberfläche, Oberflächenprüfung, Optische Messtechnik, Optische Messung, Messtechnik, Kalibrieren <Messtechnik> |