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Refraction influence analysis and investigations on automated elimination of refraction effects on geodetic measurements

Böckem, B.; Flach, P; Weiss, A.; Hennes, Maria

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000010950
Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Geodätisches Institut (GIK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2000
Sprache Englisch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-109508
KITopen-ID: 1000010950
Erschienen in XVI IMEKO World Congress 2000, 25-28 Sept., Vienna
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