KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Zuverlässigkeit elektrischer Steckverbinder

Albers, A.; Dickerhof, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2007
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000011678
Erschienen in ICMT 2007 - Internationale Konferenz für Mechatronik, 17.-20.09.2007, Karlsruhe, Germany
Verlag Universität Karlsruhe, Karlsruhe
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page