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Zuverlässigkeit elektrischer Steckverbinder

Albers, A.; Dickerhof, M.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2007
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000011678
Erschienen in ICMT 2007 - Internationale Konferenz für Mechatronik, 17.-20.09.2007, Karlsruhe, Germany
Verlag Universität Karlsruhe (TH)
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