Piracy Risk and Measure Analysis
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktentwicklung (IPEK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | urn:nbn:de:swb:90-117049 KITopen-ID: 1000011704 |
| Erschienen in | 7. Internationales Heinz Nixdorf Symposium, 20. und 21. Februar 2008, Paderborn, Germany |
| Verlag | Paderborn |
| Seiten | 12 S. |