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Piracy Risk and Measure Analysis

Albers, A.; Marxen, L.; Meboldt, M.; Oerding, T.; Schaeffler, T.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000011704
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-117049
KITopen-ID: 1000011704
Erschienen in 7. Internationales Heinz Nixdorf Symposium, 20. und 21. Februar 2008, Paderborn, Germany
Verlag Paderborn
Seiten 12 S.
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