Model-Based System Monitor Using Artificial Neural Networks (ANN)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Produktentwicklung (IPEK) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000011709 |
| Erschienen in | Proceedings / 2008 ASME International Mechanical Engineering Congress & Exposition - "Engineering a Better World", October 31 -November 6, 2008, Boston, Massachussets, USA |
| Verlag | Boston |