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Model-Based System Monitor Using Artificial Neural Networks (ANN)

Albers, A.; Wang, J.; Ott, S.; Düser, T.; Seifermann, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000011709
Erschienen in Proceedings / 2008 ASME International Mechanical Engineering Congress & Exposition - "Engineering a Better World", October 31 -November 6, 2008, Boston, Massachussets, USA
Verlag Boston
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