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Optimierungsbasierte Entwicklung von Prüfstandskomponenten unter dynamischen Aspekten

Albers, A.; Hesenauer, B.; Maier, T.; Zingel, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2009
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000011786
Erschienen in Vortrag beim SIMPEP - Kongress für Simulation im Produktentstehungsprozess, 18./19. Juni 2009, Veitshöchheim, Germany
Verlag Veitshöchheim
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