KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Optimierungsbasierte Entwicklung von Prüfstandskomponenten unter dynamischen Aspekten

Albers, A.; Hesenauer, B.; Maier, T.; Zingel, C.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Produktentwicklung (IPEK)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2009
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen-ID: 1000011786
Erschienen in Vortrag beim SIMPEP - Kongress für Simulation im Produktentstehungsprozess, 18./19. Juni 2009, Veitshöchheim, Germany
Verlag Veitshöchheim
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page