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Lokale Detektion von Defekten an spiegelnden und lackierten Oberflächen

Puente Leon, F.; Kammel, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2003
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 3-18-091806-3
ISSN: 0083-5560
KITopen ID: 1000011832
Erschienen in Oberflächenmesstechnik - Tagung 1. und 2. Dezember 2003
Verlag VDI-Verl., Düsseldorf
Serie VDI-Berichte ; 1806
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