Deflectometric inspection of diffuse surfaces in the far-infrared spectrum
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2005 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 0-8194-5652-7 ISSN: 0038-7355 KITopen-ID: 1000011892 |
| Erschienen in | Machine Vision Applications in Industrial Inspection XIII, 17 - 18 January 2005. Ed.: J.R. Price |
| Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
| Seiten | 108 - 117 |
| Serie | Proceedings / SPIE ; 5679 |