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Deflectometric inspection of diffuse surfaces in the far-infrared spectrum

Horbach, Jan W.; Kammel, Sören



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 0-8194-5652-7
ISSN: 0038-7355
KITopen ID: 1000011892
Erschienen in Machine Vision Applications in Industrial Inspection XIII, 17 - 18 January 2005. Ed.: J.R. Price
Verlag SPIE, Bellingham (Wash.)
Seiten 108 - 117
Serie Proceedings / SPIE ; 5679
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