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Bilderfassung von Verfeuerungsspuren auf Projektilen und Patronenhülsen

Puente Leon, F.; Beyerer, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 1997
Sprache Deutsch
Identifikator KITopen ID: 1000011998
Erschienen in BKA-Symposium der AG Schußwaffen/Ballistik, 26.-27. Mai 1997, Wennigsen, Germany
Verlag Wenningsen
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