Determination of critical thickness for defect formation of CdSe/ZnSe heterostructures by transmission electron microscopy and photoluminescence spectroscopy
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen) Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP) Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2008 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0031-8965, 1521-396X, 1862-6300, 1862-6319 KITopen-ID: 1000012419 |
| Erschienen in | Physica status solidi / A |
| Verlag | John Wiley and Sons |
| Band | 205 |
| Heft | 12 |
| Seiten | 2892 - 2897 |
| Nachgewiesen in | Dimensions OpenAlex |