KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Determination of critical thickness for defect formation of CdSe/ZnSe heterostructures by transmission electron microscopy and photoluminescence spectroscopy

Litvinov, D.; Schowalter, M.; Rosenauer, A.; Daniel, B.; Fallert, J.; Löffler, W.; Kalt, H.; Hetterich, M.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1002/pssa.200824151
Dimensions
Zitationen: 11
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2008
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0031-8965, 1521-396X, 1862-6300, 1862-6319
KITopen-ID: 1000012419
Erschienen in Physica status solidi / A
Verlag Wiley
Band 205
Heft 12
Seiten 2892 - 2897
Nachgewiesen in Dimensions
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page